高壓加速老化試驗箱內外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。Jing密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續200h。自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知An全門禁鎖定控制，門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。
試驗箱執行與滿足標準：
1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術條件；
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗；
3.MIL-STD810D方法502.2；
4.GJB150.9-8溫濕試驗；
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗；

試驗箱結構: 
1.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.  
2.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次手動加水可連續運轉1H;自動加水可連續運轉999H;  
3.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力安全檢知、門禁自動鎖定控制系統,采用安全門把設計,內箱有大于正常壓力時測試門會被反壓保護而打不開.保護操作人員安全。  
4.型packing,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命.  
5.實驗開始前之真空動作可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing  ＜1micom.以確保箱內之純凈度.  
6.保修期：機器全系統保固壹年(天災或人為因素造成損壞不在此限),終身維護.  
7.交貨期限:簽訂合同定金確定后3（現貨）個工作日.需方工廠交貨,我司提供免費包裝、運輸人員培訓、安裝、調試等費用.

試驗箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω

技術性能指標：
1、溫度范圍：＋110℃～＋132℃。
2、溫度波動度：±0、5℃。
3、溫度均勻度：±1、5℃。
4、濕度范圍：R、H飽和蒸氣。
5、濕度波動度：±1、5%R、H。
6、濕度均勻度：±3、0%R、H。
7、壓力范圍：
相對壓力：+0～2kg/cm2。（注：可生產壓力范圍：+0～3kg/cm2）。
Jue對壓力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全壓力容量：4kg/cm2＝1個環境大氣壓＋3kg/cm2。
8、循環方式：水蒸氣自然對流循環。
9、測時間設置：0～999Hr。
10、加壓時間：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2約30分鐘。
12、升溫時間：由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。
13、溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產品溫度變化速率。
14、試驗內箱體積供選擇：
注：
1、在無試驗負荷、無層架情況下穩定30分鐘后測定的性能。
2、關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。
3、溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。
4、溫濕度均勻度定義為：實驗室幾何中心點處，溫濕度時的所測之資料。
5、以上數據性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。
高壓加速老化試驗箱詳細說明：
    隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（國際電工會）所標準化。
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